Участие в конференции ОЗИС: представлена технология калибровки лазерных сканеров

6-7 ноября 2025 года наша компания приняла участие в XV научно-практической конференции «Обследование зданий и сооружений: проблемы и пути их решения», посвященной памяти профессора В.Т. Гроздова. Это ключевое отраслевое мероприятие было организовано ООО «ОЗИС-Венчур» и Ассоциацией обследователей зданий и сооружений в г. Санкт-Петербурге.

С докладом на актуальную для рынка тему выступил технический директор ООО «Архитектурная фотограмметрия», к.т.н., доцент СПбГУ Александр Евгеньевич Войнаровский. Его презентация была посвящена «Технологии калибровки наземных лазерных сканеров – решению актуальной научно-технической задачи».

Выступление АЕ Войнаровского с докладом Калибровка НЛС


В ходе выступления была детально рассмотрена проблема обеспечения метрологической надёжности дорогостоящего оборудования для лазерного сканирования в текущих условиях. Александр Евгеньевич представил разработанную в компании методику полной геометрической калибровки, которая позволяет:

• Диагностировать систематические ошибки сканера (коллимацию, смещение места зенита, наклоны осей).
• Создавать математическую модель ошибок для каждого конкретного прибора.
• Автоматически корректировать исходные данные измерений с помощью специализированного программного обеспечения, возвращая оборудованию заявленную точность.

Технология носит универсальный характер и применима для сканеров различных производителей, что делает её практическим решением для геодезических и инженерных компаний, заинтересованных в долгосрочном поддержании высокого качества собираемых пространственных данных.

Участие в профильной конференции и представление собственной разработки соответствует стратегии компании «Архитектурная фотограмметрия» по развитию экспертизы и внедрению передовых решений в области точных измерений и цифровой документации.

Текст доклада «Технология калибровки наземных лазерных сканеров – решение актуальной научно-технической задачи» → читать
Видео с докладом → смотреть
Сайт организатора ОЗИС-Венчур


#ОЗИС2025 #Войнаровский #КалибровкаСканеров #ЛазерноеСканирование #АрхитектурнаяФотограмметрия #Геодезия #ОбследованиеЗданий #Метрология #НЛС #СПбГУ

Распечатать

Похожие публикации

Вторая международная научно-практическая конференция «Геодезия, картография, геоинформатика и кадастры. От идеи до внедрения»

С 8 по 10 ноября 2017 года в Русском географическом обществе (г.Санкт-Петербург, пер. Гривцова, д. 10) пройдет вторая международная научно-практическая конференция «Геодезия, картография, геоинформатика и кадастры. От идеи до внедрения». Ведущие специалисты компании НПП «Фотограмметрия» выступят с...

Статьи и публикации
Подробнее...

II Научно-практическая конференция "Проблемы обследования зданий и сооружений и пути их решения"

14 октября 2011 года в рамках II Научно-практической конференции "Проблемы обследования зданий и сооружений и пути их решения" выступил к.т.н., технический директор ООО "НПП "Фотограмметрия" Тюрин Сергей Вячеславович с докладом "Технологии фиксации технического...

Статьи и публикации
Подробнее...

Руководство НПП ФОТОГРАММЕТРИЯ

Основной костяк фирмы составляют выпускники кафедры картографии Санкт-Петербургского государственного университета. Молодость, энергия и хорошая теоретическая подготовка помогают нашим сотрудникам быстро осваивать новые технологии, разрабатывать собственные оригинальные подходы к решению различных...

О компании НПП Фотограмметрия
Подробнее...

Программный комплекс ScanIMAGER

Программный комплекс ScanIMAGER предназначен для обработки результатов трехмерного лазерного сканирования применительно к архитектурным обмерам. Он построен по модульному принципу и поставляется в различных модификациях.
Подробнее...

Новочеркасский войсковой собор, полет по облаку точек

3D модель горельефа Е.В. Вучетича, ВДНХ, г.Москва

Аппаратно-программный комплекс PHOTOMICROMETER 3D

ВЫСОКОТОЧНАЯ ФОТОГРАММЕТРИЧЕСКАЯ СИСТЕМА МОНИТОРИНГА ТРЕЩИН И ДЕФОРМАЦИОННЫХ ШВОВ В ЗДАНИЯХ И СООРУЖЕНИЯХ

Фотограмметрический щелемер (сокращенно - фотощелемер, иначе - фотомикрометр) - это аппаратно-программный комплекс для высокоточного трехмерного мониторинга трещин, технологических зазоров или деформационных швов.

Перейти на сайт